ナノテク部会 第68回研究会

テーマ:表界面分析の基礎原理と応用事例
主  催(一社)表面技術協会 ナノテク部会
協  賛(公社)日本表面科学会,(公社)日本セラミックス協会,
日本フラックス成長研究会,日本結晶成長学会 新技術・新材料分科会,信州大学AGENDA
日  時平成29年7月26日(水)13:30〜
会  場芝浦工業大学 豊洲キャンパス 教室棟5階505教室
http://www.shibaura-it.ac.jp/access/toyosu.html
講  演
1.SPMの基礎原理と応用事例の紹介(仮題)
(株)島津製作所 粉川 良平
2.電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)の基礎原理と応用事例
(株)島津製作所 小原 清弘
3.硬さ測定の原理とアプリケーションの紹介
(株)島津製作所 垣尾 尚史
4.赤外分光装置(FT-IR)の原理と各種測定法の紹介
(株)島津製作所 鈴木 康志
意見交換会17:00~。参加費3,000円
参 加 費
(消費税含む)
セミナーテキスト代(*購入必須)
 ナノテク部会・会員無料
 表協/協賛学協会・会員3,000円
 学生2,000円
 大学/公的機関5,000円
 一般10,000円
申込方法参加希望の方は,「ナノテク部会 第68回研究会 参加希望」と明記のうえ,参加者1名につきそれぞれ,(1)氏名,(2)勤務先(所属),(3)会員種別(上記),(4)電子メールアドレス,(5)意見交換会への参加の有無,(6)郵便物(有料の場合,請求書等)送付先,をご記載のうえ,下記あてに電子メールまたはFaxでお申し込みください。
申 込 先
問 合 先
「ナノテク部会」事務局・上野
 E-mail:ueno912@sfj.or.jp,TEL:03-3252-3286,FAX:03-3252-3288