ライトメタル表面技術部会・第320回例会
| 日 時 | 平成30年5月17日（木）13：30 ～17：00 | ||||||||||
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| 会 場 | 川崎市産業振興会館 第2研修室（神奈川県川崎市幸区堀川町66-20）
交通：JR川崎駅から徒歩8分 http://www.kawasaki-net.ne.jp/kaikan/access.html | ||||||||||
| 講 演 |
1．X線を利用した残留応力測定の原理と測定事例の紹介
パルステック工業(株) 内山 宗久
［概要］小型ポータブル装置の残留応力計の測定原理から製品紹介とアルミニウム材及び各種材料の残留応力測定事例及び問題解決・管理項目としての残留応力計の採用例を説明します。
2．蛍光X線測定装置の金属表面処理への応用
アワーズテック(株) 清水 文雄
［概要］エネルギー分散型蛍光Ⅹ線分析技術の原理と概要説明及び本技術の適用分野や応用事例の紹介と合わせ、小型・軽量な特徴を持つ当社・アワーズテック㈱の分析装置の紹介をします。
3．アルマイト皮膜の構造体触媒プロセスへの応用
東京農工大学 桜井 誠
［概要］当研究室で続けている、金属アルミニウム母材の表面に陽極酸化等の表面処理をすることで形成した多孔質皮膜の触媒担体としての応用、この担体の構造体触媒化による反応プロセス高性能化を目指した応用等の研究成果を紹介します。
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| 参 加 費 （消費税含む） |
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| 定 員 | 40名 | ||||||||||
| 申込方法 | 参加希望の方は，件名を｢ＬＭ部会・第320回例会 参加希望｣として，参加者1名につきそれぞれ，（1）氏名，（2）所属，（3）会員種別（部会・普通会員，部会・資料会員，表協会員，シニア，一般），（4）連絡先（住所，TEL，E-mail），を記載をご記載のうえ，下記あてに電子メールまたはFaxでお申し込みください。 | ||||||||||
| 申 込 先 問 合 先 | 「ライトメタル表面技術部会」事務局・上野 E-mail：ueno912@sfj.or.jp，TEL：03-3252-3286，FAX：03-3252-3288 |